ログイン
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To
lat lon distance
To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 学術雑誌論文等

放射光走査型X線顕微鏡による微量元素の化学状態分析 <総合論文>

https://hiroshima.repo.nii.ac.jp/records/2011620
https://hiroshima.repo.nii.ac.jp/records/2011620
03f7e33c-4fba-4111-925e-5ccf1614e068
名前 / ファイル ライセンス アクション
BunsekiKagaku_45_125.pdf BunsekiKagaku_45_125.pdf (1.3 MB)
Item type デフォルトアイテムタイプ_(フル)(1)
公開日 2023-03-18
タイトル
タイトル 放射光走査型X線顕微鏡による微量元素の化学状態分析 <総合論文>
言語 ja
タイトル
タイトル Trace element characterization using a synchrotron radiation X-ray microprobe
言語 en
作成者 早川, 慎二郎

× 早川, 慎二郎

ja 早川, 慎二郎

en Hayakawa, Shinjiro

Search repository
アクセス権
アクセス権 open access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
権利情報
権利情報 Copyright (c) 1996 The Japan Society for Analytical Chemistry
権利情報
権利情報 本文データはJournal@rchiveから複製したものである
主題
主題Scheme Other
主題 Synchorotron radiation
主題
主題Scheme Other
主題 X-ray fluorescence analysis
主題
主題Scheme Other
主題 Microbeam
主題
主題Scheme Other
主題 Microprobe
主題
主題Scheme Other
主題 Wolter mirror
主題
主題Scheme Other
主題 Trace element analysis
主題
主題Scheme Other
主題 XAFS
主題
主題Scheme Other
主題 Intermediate thick sample
主題
主題Scheme Other
主題 Synthetic diamond
主題
主題Scheme NDC
主題 430
内容記述
内容記述 放射光X線の集光光学系を作製し,微小部での蛍光X線測定が可能な走査型X線顕微鏡を開発した.この顕微鏡により極微量の元素について蛍光X線法による定性,定量分析が可能であるだけでなく,X線吸収端微細構造(XAFS)スペクトルから局所での化学状態に関する情報を得ることができる.本論文では作製した顕微鏡についてX線集光光学系,検出限界,微量不純物の状態分析への応用を取り上げるとともに,放射光のエネルギー可変性を利用した蛍光X線定量分析法,蛍光X線収量法でのXAFS測定における自己吸収効果についても取り上げる.
言語 ja
内容記述
内容記述 A scanning X-ray microprobe using synchrotron radiation was developed employing an X-ray focusing system with total reflection mirrors. Utilizing a Wolter mirror system, a hard X-ray microbeam was first realized. With an energy tunable X-ray microprobe, sensitivity in X-ray fluorescence (XRF) analysis can be optimized for the element of interest at less than 1 ppm in relative concentration. Moreover, small area X-ray absorption fine structure (XAFS) measurements with XRF detection can provide chemical state information about a trace element in a sample. To fully utilize the X-ray microprobe, an XRF quantification method for intermediate thick samples was proposed and the effects of self-absorption in the XRF yield XAFS measurements were discussed.
言語 en
出版者
出版者 日本分析化学会
言語
言語 jpn
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
関連情報
識別子タイプ URI
関連識別子 http://www.journalarchive.jst.go.jp/japanese/jnlabstract_ja.php?cdjournal=bunsekikagaku1952&cdvol=45&noissue=2&startpage=125
収録物識別子
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 0525-1931
収録物識別子
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00222633
開始ページ
開始ページ 125
書誌情報 分析化学
分析化学

巻 45, 号 2, p. 125-134, 発行日 1996-02-05
旧ID 30503
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2025-02-21 06:10:49.669115
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3