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放射光走査型X線顕微鏡による微量元素の化学状態分析 <総合論文>
https://hiroshima.repo.nii.ac.jp/records/2011620
https://hiroshima.repo.nii.ac.jp/records/201162003f7e33c-4fba-4111-925e-5ccf1614e068
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
BunsekiKagaku_45_125.pdf (1.3 MB)
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| Item type | デフォルトアイテムタイプ_（フル）(1) | |||||||||
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| 公開日 | 2023-03-18 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | 放射光走査型X線顕微鏡による微量元素の化学状態分析 <総合論文> | |||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | Trace element characterization using a synchrotron radiation X-ray microprobe | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 作成者 |
早川, 慎二郎
× 早川, 慎二郎
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| アクセス権 | ||||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||||
| 権利情報 | ||||||||||
| 権利情報 | Copyright (c) 1996 The Japan Society for Analytical Chemistry | |||||||||
| 権利情報 | ||||||||||
| 権利情報 | 本文データはJournal@rchiveから複製したものである | |||||||||
| 主題 | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | Synchorotron radiation | |||||||||
| 主題 | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | X-ray fluorescence analysis | |||||||||
| 主題 | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | Microbeam | |||||||||
| 主題 | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | Microprobe | |||||||||
| 主題 | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | Wolter mirror | |||||||||
| 主題 | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | Trace element analysis | |||||||||
| 主題 | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | XAFS | |||||||||
| 主題 | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | Intermediate thick sample | |||||||||
| 主題 | ||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||
| 主題 | Synthetic diamond | |||||||||
| 主題 | ||||||||||
| 主題Scheme | NDC | |||||||||
| 主題 | 430 | |||||||||
| 内容記述 | ||||||||||
| 内容記述 | 放射光X線の集光光学系を作製し,微小部での蛍光X線測定が可能な走査型X線顕微鏡を開発した.この顕微鏡により極微量の元素について蛍光X線法による定性,定量分析が可能であるだけでなく,X線吸収端微細構造(XAFS)スペクトルから局所での化学状態に関する情報を得ることができる.本論文では作製した顕微鏡についてX線集光光学系,検出限界,微量不純物の状態分析への応用を取り上げるとともに,放射光のエネルギー可変性を利用した蛍光X線定量分析法,蛍光X線収量法でのXAFS測定における自己吸収効果についても取り上げる. | |||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| 内容記述 | ||||||||||
| 内容記述 | A scanning X-ray microprobe using synchrotron radiation was developed employing an X-ray focusing system with total reflection mirrors. Utilizing a Wolter mirror system, a hard X-ray microbeam was first realized. With an energy tunable X-ray microprobe, sensitivity in X-ray fluorescence (XRF) analysis can be optimized for the element of interest at less than 1 ppm in relative concentration. Moreover, small area X-ray absorption fine structure (XAFS) measurements with XRF detection can provide chemical state information about a trace element in a sample. To fully utilize the X-ray microprobe, an XRF quantification method for intermediate thick samples was proposed and the effects of self-absorption in the XRF yield XAFS measurements were discussed. | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 出版者 | ||||||||||
| 出版者 | 日本分析化学会 | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||
| 関連情報 | ||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||
| 関連識別子 | http://www.journalarchive.jst.go.jp/japanese/jnlabstract_ja.php?cdjournal=bunsekikagaku1952&cdvol=45&noissue=2&startpage=125 | |||||||||
| 収録物識別子 | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||
| 収録物識別子 | 0525-1931 | |||||||||
| 収録物識別子 | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||
| 収録物識別子 | AN00222633 | |||||||||
| 開始ページ | ||||||||||
| 開始ページ | 125 | |||||||||
| 書誌情報 |
分析化学 分析化学 巻 45, 号 2, p. 125-134, 発行日 1996-02-05 |
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| 旧ID | 30503 | |||||||||
