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  1. 学術雑誌論文等

Suppression of particle generation in a plasma process using a sine-wave modulated rf plasma

https://hiroshima.repo.nii.ac.jp/records/2007415
https://hiroshima.repo.nii.ac.jp/records/2007415
deb42dd8-c7d4-4b4b-b013-1c2767f234d9
名前 / ファイル ライセンス アクション
JNanopracRes_8_395.pdf JNanopracRes_8_395.pdf (1.1 MB)
Item type デフォルトアイテムタイプ_(フル)(1)
公開日 2023-03-18
タイトル
タイトル Suppression of particle generation in a plasma process using a sine-wave modulated rf plasma
言語 en
作成者 Kashihara, Nobuki

× Kashihara, Nobuki

en Kashihara, Nobuki

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Setyawan, Heru

× Setyawan, Heru

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Shimada, Manabu

× Shimada, Manabu

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Hayashi, Yutaka

× Hayashi, Yutaka

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Kim, Chan Soo

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Okuyama, Kikuo

× Okuyama, Kikuo

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Winardi, Sugeng

× Winardi, Sugeng

en Winardi, Sugeng

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アクセス権
アクセス権 open access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
権利情報
権利情報 Copyright (c) 2006 Springer "The original publication is available at www.springerlink.com"
主題
主題Scheme Other
主題 Nanoparticle
主題
主題Scheme Other
主題 Particle generation control
主題
主題Scheme Other
主題 Plasma reactor
主題
主題Scheme Other
主題 Sine-wave modulation
主題
主題Scheme NDC
主題 430
内容記述
内容記述 Sine-wave modulated rf plasma has been used to control particle generation and growth in a plasma-enhanced chemical vapor deposition of silicon dioxide thin films using TEOS/O2. The density and the size of particles generated in the plasma are greatly reduced when the plasma is modulated with sine-wave modulation at low modulation frequency (<1000 Hz). In addition, particle contamination on the films is significantly reduced also for nanoparticles, and the film growth rates at the range of modulation frequencies where particle generation are greatly reduced do not decrease appreciably. Compared to its counterpart pulse-wave modulation plasma, the sine-wave modulation plasma has demonstrated a better performance in terms of reduction of particle generation and film contamination, and of film growth rate. Thus, the sine-wave modulation plasma has shown as a promising method to be applied in the production of thin film with a high deposition rate and a low particle contamination.
言語 en
出版者
出版者 Springer
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
出版タイプ
出版タイプ AO
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_b1a7d7d4d402bcce
関連情報
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.1007/s11051-005-9005-1
関連情報
関連タイプ isVersionOf
識別子タイプ DOI
関連識別子 http://dx.doi.org/10.1007/s11051-005-9005-1
収録物識別子
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 1388-0764
収録物識別子
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA11551748
開始ページ
開始ページ 395
書誌情報 Journal of Nanoparticle Research
Journal of Nanoparticle Research

巻 8, 号 3-4, p. 395-403, 発行日 2006-08
旧ID 15361
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Ver.1 2025-02-21 03:51:21.113198
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