| Item type |
デフォルトアイテムタイプ_（フル）(1) |
| 公開日 |
2023-03-18 |
| タイトル |
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タイトル |
Observation and simulation of hard x ray photoelectron diffraction to determine polarity of polycrystalline zinc oxide films with rotation domains |
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言語 |
en |
| 作成者 |
Williams, Jesse R.
Píš, Igor
Kobata, Masaaki
Winkelmann, Aimo
Matsushita, Tomohiro
Adachi, Yutaka
Ohashi, Naoki
Kobayashi, Keisuke
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| アクセス権 |
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アクセス権 |
open access |
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アクセス権URI |
http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 |
| 権利情報 |
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権利情報 |
(c) 2012 American Institute of Physics |
| 主題 |
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主題Scheme |
NDC |
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主題 |
420 |
| 内容記述 |
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内容記述 |
X ray photoelectron diffraction (XPD) patterns of polar zinc oxide (ZnO) surfaces were investigated experimentally using hard x rays and monochromatized Cr Kα radiation and theoretically using a cluster model approach and a dynamical Bloch wave approach. We focused on photoelectrons emitted from the Zn 2p3/2 and O 1s orbitals in the analysis. The obtained XPD patterns for the (0001) and (000) surfaces of a ZnO single crystal were distinct for a given emitter and polarity. Polarity determination of c-axis-textured polycrystalline ZnO thin films was also achieved with the concept of XPD, even though the in-plane orientation of the columnar ZnO grains was random. |
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言語 |
en |
| 出版者 |
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出版者 |
American Institute of Physics |
| 言語 |
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言語 |
eng |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| 出版タイプ |
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出版タイプ |
VoR |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
| 関連情報 |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
10.1063/1.3682088 |
| 関連情報 |
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識別子タイプ |
DOI |
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関連識別子 |
http://dx.doi.org/10.1063/1.3682088 |
| 収録物識別子 |
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収録物識別子タイプ |
ISSN |
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収録物識別子 |
0021-8979 |
| 収録物識別子 |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AA00693547 |
| 開始ページ |
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開始ページ |
033525 |
| 書誌情報 |
Journal of Applied Physics
Journal of Applied Physics
巻 111,
号 3,
p. 033525,
発行日 2012
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| 旧ID |
33896 |
JApplPhys_111_033525.pdf (3.2 MB)
